Publicaciones

Luís Carlos Altamirano and Leopoldo Altamirano and Matías Alvarado., Non-uniform sampling for improved appearance-based models, Pattern Recognition Letters, 24:521-535, 2003.
A.B. Flores, L. A. Robles, J.A. Ascencio, M.O. Arias and Micron, Small metal nanoparticle recognition using digital image analysis and high resolution electron microscopy, Elsevier Journal, 34:109-118, 2003.
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